Informacja o cookies

Zgadzam się Nasza strona zapisuje niewielkie pliki tekstowe, nazywane ciasteczkami (ang. cookies) na Twoim urządzeniu w celu lepszego dostosowania treści oraz dla celów statystycznych. Możesz wyłączyć możliwość ich zapisu, zmieniając ustawienia Twojej przeglądarki. Korzystanie z naszej strony bez zmiany ustawień oznacza zgodę na przechowywanie cookies w Twoim urządzeniu.

Publikacje Pracowników Politechniki Lubelskiej

Status:
Autorzy: Hotra Oleksandra, Bylicki Piotr
Rok wydania: 2011
URL do źródła LINK
Język: angielski
Źródło: 7th International Conference "Electromagnetic Devices And Processes In Environment Protection" Elmeco-7 Joint With 10th Seminar "Applications Od Superconductors" AoS-10, 28-30.09.2011
Miasto wystąpienia: Nałęczów
Państwo wystąpienia: POLSKA
Efekt badań statutowych NIE
Abstrakty: polski | angielski
W artykule przeanalizowano nową metodę wyznaczania elektrycznych oraz termicznych parametrów ogniw Peltiera celem wykorzystania jej wyników do optymalizacji elementów Peltiera. Otrzymane wyniki dają możliwość optymalizowania chłodziarek termoelektrycznych takich jak kaskadowe elementy Peltiera w celu osiągnięcia najbardziej efektywnego punktu pracy i osiągnięcie najniższej możliwej temperatury. W czterostopniowej chłodziarce termoelektrycznej zoptymalizowanej przy użyciu proponowanej metody otrzymana temperatura może być bardzo bliska temperaturze nadprzewodnictwa HgBa2CaCu2O6+δ. Badany element Peltiera nie ulega uszkodzeniu podczas wyznaczania parametrów i może być dalej używany.
A new method for determining electric and thermal characteristics of Peltier devices is analyzed with the aim of optimization of Peltier devices. Obtained results give the possibility to optimize thermoelectric cooler systems such as Peltier cascades to reach most efficient operating state and to achieve the lowest possible temperature. In optimized by proposed method four stage Peltier cooling cascade the achieved temperature could be near to the superconducting transition temperature of HgBa2CaCu2O6+δ. Peltier device is not damaged during the test process and still can be used.