Formularz do publikacji pracowników PL dostępny TUTAJ

Szczegóły publikacji

Tytuł:

AC Measurements and dielectric properties of nitrogen-rich silicon nitride thin films

Autorzy: Karolina Czarnacka, Paweł Żukowski, F. F. Komarov, V. O. Romanov, A.N. Sevchenko, I. Parkhomenko
Typ: Rozdział
Wersja dokumentu: Drukowana | Elektroniczna
Źródło: Proceedings of the 2017 IEEE 7th International Conference Nanomaterials: Application & Properties (NAP-2017) [WOS]
Redaktorzy: A.D. Pogrebnjak
Miejsce wydania: New York
Wydawca: IEEE
Rok wydania: 2017
Publikacja do: modułu sprawozdawczego PBN
Liczba arkuszy: 0.6
Open Access: NIE
Materiał konferencyjny: TAK
Nazwa konferencji: 7th IEEE International Conference Nanomaterials - Application and Properties (NAP 2017)
Data rozpoczęcia: 10 września 2017
Data zakończenia: 15 września 2017
Miasto konferencji: Zatoka
Państwo konferencji: Ukraina