Artykuły z 2006 (1)
1. Stress evolution during intermittent deposition of metallic thin films / G. Gładyszewski, D. Chocyk, A. Prószyński, T. Pieńkos // Microelectronic Engineering.- 2006, vol. 83, nr 11-12, s. 2351-2354
Artykuły z 2005 (5)
1. Determination of surface waviness using radius of curvature measurement with laser scanning technique / Tomasz Pieńkos, Longin Gładyszewski, Adam Prószyński, Dariusz Chocyk, Grzegorz Gładyszewski // Optica Applicata.- 2005, vol. 35, nr 3, s. 503-507
2. Evolution of stress and structure in Cu thin films / Dariusz Chocyk, Tomasz Zientarski, Adam Prószynski, Tomasz Pienkos, Longin Gładyszewski, Grzegorz Gładyszewski // Crystal Research and Technology.- 2005, vol. 40, nr 4-5, s. 509-516
3. Measurement od stress as a function of temperature in Ag and Cug thin films / Adam Prószyński, Dariusz Chocyk, Grzegorz Gładyszewski, Tomasz Pieńkos, Longin Gładyszewski // Optica Applicata.- 2005, vol. 35, nr 3, s. 517-522
4. Measurement of stress as a function of temperature in Ag and Cu thin films / Adam Prószyński, Dariusz Chocyk, Grzegorz Gładyszewski, Tomasz Pieńkos, Longin Gładyszewski // Optica Applicata.- 2005, vol. 35, nr 3, s. 517-522
5. Post-deposition stress evolution in Cu and Ag thin films / Dariusz Chocyk, Adam Prószyński, Grzegorz Gładyszewski, Tomasz Pieńkos, Longin Gładyszewski // Optica Applicata.- 2005, vol. 35, nr 3, s. 419-424
Jeżeli ta strona zawiera nieaktualne, błędne lub niekompletne dane prosimy o kontakt pod adresem oab@pollub.pl