Zewnętrzne identyfikatory
| WoS ResearcherID | BRAK |
| ORCID | BRAK |
| Scopus ID | BRAK |
Historia zatrudnienia
| Belarussian State University, Minsk | zatrudniony do dnia dzisiejszego |
Trzy ostatnio wprowadzone artykuły autora (1)
Frequency-dependent annealing characteristics of the implant-isplated GaAs layers / M. Kowalski, J. Partyka, P. Węgierek, P. Żukowski, F. F.Komarov, A. V. Jurchenko, D. Frei // Vacuum.- 2005, vol. 78, nr 2-4, s. 311-317
Jeżeli ta strona zawiera nieaktualne, błędne lub niekompletne dane prosimy o kontakt pod adresem oab@pollub.pl