Artykuły z 2016 (1)
1. Analysis of composition, morphology and wettability of Mo thin layers deposited on glass / Igor Tashlykov, Paweł Żukowski, Oleg M. Mikhalkovich // Przegląd Elektrotechniczny.- 2016, vol. 92, nr 11, s. 229-231 [MNiSW: 14]
Artykuły z 2014 (1)
1. Surface properties of Me/Si structures prepared by means of self-ion assisted deposition / Igor Tashlykov, Paweł Żukowski, Oleg M. Mikhalkovich, Sergei M. Baraishuk // Acta Physica Polonica A.- 2014, vol. 125, nr 6, s. 1306-1308 [MNiSW: 15]
Artykuły z 2010 (1)
1. Composition of Co films/Si substrate systems prepared by means of self-ion assisted deposition and accompanying silicon damage / Igor Tashlykov, Paweł Żukowski, Oleg Mikhalkovich, Yuri Ermakov, Vladimir Chernysh // Przegląd Elektrotechniczny.- 2010, vol. 86, nr 7, s. 122-124
Artykuły z 2007 (1)
1. Analysis of the composition of Ti-based thin films deposited on silicon by means of self-ion assisted deposition / I. S. Tashlykov, P. V. Zukowski, S. M. Baraishuk, O. M. Mikhalkovich // Radiation Effects and Defects in Solids : Incorporating Plasma Science and Plasma Technology.- 2007, vol. 162, nr 9, s. 637-641
Jeżeli ta strona zawiera nieaktualne, błędne lub niekompletne dane prosimy o kontakt pod adresem oab@pollub.pl