Artykuły z 2010 (1)
1. An effect of rapid thermal annealing on the structure of TiN/Ti/Si / Yuri Yemelianenko, Victor Kolos, Maria Markevich, Viaczeslaw Stelmakh, Arkady Chaplanov, Czesław Karwat // Przegląd Elektrotechniczny.- 2010, vol. 86, nr 7, s. 26-28
Jeżeli ta strona zawiera nieaktualne, błędne lub niekompletne dane prosimy o kontakt pod adresem oab@pollub.pl