Molecular dynamics study of adatom size effect on stress evolution in Lennard-Jones thin films: X-ray scattering analysis
Fragment książki (Materiały konferencyjne)
MNiSW
10
WOS
| Status: | |
| Autorzy: | Zientarski Tomasz, Chocyk Dariusz |
| Wersja dokumentu: | Drukowana | Elektroniczna |
| Arkusze wydawnicze: | 0,5 |
| Język: | angielski |
| Strony: | 160 - 164 |
| Web of Science® Times Cited: | 0 |
| Scopus® Cytowania: | 0 |
| Bazy: | Web of Science | Scopus | Web of Science Core Collection |
| Efekt badań statutowych | NIE |
| Materiał konferencyjny: | TAK |
| Nazwa konferencji: | 22nd Conference on Applied Crystallography |
| Skrócona nazwa konferencji: | 22nd CAC |
| URL serii konferencji: | LINK |
| Termin konferencji: | 2 września 2012 do 6 września 2012 |
| Miasto konferencji: | Targanice |
| Państwo konferencji: | POLSKA |
| Publikacja OA: | NIE |
| Abstrakty: | angielski |
| Molecular dynamic simulations are used to study the structure and the evolution of stress during the deposition of atoms with different size on the (001) FCC plane. The relative size of deposited atoms is changed in the range from 0.75 to 1.0. To calculate the X-ray scattering profiles we applied the model that is based on the kinematical scattering theory. Deformation of the lattice parameters in deposited layers were directly determined by the analysis of X-ray diffraction profiles. It was found that the crystal lattice near the surface exhibits a major influence on the stress evolution. The deposited atoms form the same structure in entire systems, regardless of the their relative size. |
