Informacja o cookies

Zgadzam się Nasza strona zapisuje niewielkie pliki tekstowe, nazywane ciasteczkami (ang. cookies) na Twoim urządzeniu w celu lepszego dostosowania treści oraz dla celów statystycznych. Możesz wyłączyć możliwość ich zapisu, zmieniając ustawienia Twojej przeglądarki. Korzystanie z naszej strony bez zmiany ustawień oznacza zgodę na przechowywanie cookies w Twoim urządzeniu.

Publikacje Pracowników Politechniki Lubelskiej

Publikacje Pracowników PL z lat 1990-2010

Publikacje pracowników Politechniki Lubelskie z lat 1990-2010 dostępne są jak dotychczas w starej bazie publikacji
LINK DO STAREJ BAZY

Status:
Autorzy: Zientarski Tomasz, Chocyk Dariusz
Wersja dokumentu: Drukowana | Elektroniczna
Arkusze wydawnicze: 0,5
Język: angielski
Strony: 160 - 164
Web of Science® Times Cited: 0
Scopus® Cytowania: 0
Bazy: Web of Science | Scopus | Web of Science Core Collection
Efekt badań statutowych NIE
Materiał konferencyjny: NIE
Publikacja OA: NIE
Abstrakty: angielski
Molecular dynamic simulations are used to study the structure and the evolution of stress during the deposition of atoms with different size on the (001) FCC plane. The relative size of deposited atoms is changed in the range from 0.75 to 1.0. To calculate the X-ray scattering profiles we applied the model that is based on the kinematical scattering theory. Deformation of the lattice parameters in deposited layers were directly determined by the analysis of X-ray diffraction profiles. It was found that the crystal lattice near the surface exhibits a major influence on the stress evolution. The deposited atoms form the same structure in entire systems, regardless of the their relative size.