Informacja o cookies

Zgadzam się Nasza strona zapisuje niewielkie pliki tekstowe, nazywane ciasteczkami (ang. cookies) na Twoim urządzeniu w celu lepszego dostosowania treści oraz dla celów statystycznych. Możesz wyłączyć możliwość ich zapisu, zmieniając ustawienia Twojej przeglądarki. Korzystanie z naszej strony bez zmiany ustawień oznacza zgodę na przechowywanie cookies w Twoim urządzeniu.

Publikacje Pracowników Politechniki Lubelskiej

Status:
Autorzy: Chocyk Dariusz, Zientarski Tomasz
Wersja dokumentu: Drukowana | Elektroniczna
Arkusze wydawnicze: 0,5
Język: angielski
Strony: 142 - 145
Web of Science® Times Cited: 1
Scopus® Cytowania: 1
Bazy: Web of Science | Scopus | Web of Science Core Collection
Efekt badań statutowych NIE
Materiał konferencyjny: NIE
Publikacja OA: NIE
Abstrakty: angielski
The aim of this work is to investigate structure and stress evolution in Au/Cu bilayer systems during deposition. The approach used here is based on an embedded atom method (EAM). interatomic potential database for different metal elements, their alloys and multilayers. We applied the kinematical scattering theory to calculate the X-ray scattering profiles. In this case the X-ray scattering techniques are used for the structural characterization of crystal structures obtained from simulation data. This method was applied to determine the lattice parameters in any directions. The lattice parameters in deposited layers were directly determined by the analysis of X-ray diffraction profiles. Results shows that on the interface of Au/Cu system, the crystalline lattice of Au layer is fitted to crystalline lattice of Cu layer. We found that deformation of the crystal lattice near the interface has a major influence on the stress.