Informacja o cookies

Zgadzam się Nasza strona zapisuje niewielkie pliki tekstowe, nazywane ciasteczkami (ang. cookies) na Twoim urządzeniu w celu lepszego dostosowania treści oraz dla celów statystycznych. Możesz wyłączyć możliwość ich zapisu, zmieniając ustawienia Twojej przeglądarki. Korzystanie z naszej strony bez zmiany ustawień oznacza zgodę na przechowywanie cookies w Twoim urządzeniu.

Publikacje Pracowników Politechniki Lubelskiej

Publikacje Pracowników PL z lat 1990-2010

Publikacje pracowników Politechniki Lubelskie z lat 1990-2010 dostępne są jak dotychczas w starej bazie publikacji
LINK DO STAREJ BAZY

MNiSW
15
WOS
Status:
Autorzy: Kucheruk Volodymyr , Katsyv Samuil, Glushko Mykhailo, Wójcik Waldemar, Zyska Tomasz, Taissariyeva Kyrmyzy, Mussabekov Kanat
Wersja dokumentu: Drukowana | Elektroniczna
Arkusze wydawnicze: 0,5
Język: angielski
Strony: 617 - 624
Web of Science® Times Cited: 0
Scopus® Cytowania: 6
Bazy: Web of Science | Scopus | Web of Science Core Collection | EBSCO | INSPEC | SPIE Digital Library
Efekt badań statutowych NIE
Materiał konferencyjny: TAK
Nazwa konferencji: Conference on Photonics Applications in Astronomy, Communications, Industry, and High-Energy Physics Experiments
Termin konferencji: 29 maja 2016 do 6 czerwca 2016
Miasto konferencji: Wilga
Państwo konferencji: POLSKA
Publikacja OA: NIE
Abstrakty: angielski
The paper investigated the possibility of measuring the resistive physical quantity generator using deterministic chaos based RL-diode circuit. A generalized structure of the measuring device using a deterministic chaos signal generator. To separate the useful component of the measurement signal of amplitude detector is proposed to use. Mathematical modeling of the RL-diode circuit, which showed a significant effect of the barrier and diffusion capacity of the diode on the occurrence of deterministic chaotic oscillations in this circuit. It is shown that this type deterministic chaos signal generator has a high sensitivity to a change in output voltage resistance in the range of 250 Ohms, which can be used to create the measuring devices based on it. © (2016) COPYRIGHT Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE). Downloading of the abstract is permitted for personal use only.