Informacja o cookies

Zgadzam się Nasza strona zapisuje niewielkie pliki tekstowe, nazywane ciasteczkami (ang. cookies) na Twoim urządzeniu w celu lepszego dostosowania treści oraz dla celów statystycznych. Możesz wyłączyć możliwość ich zapisu, zmieniając ustawienia Twojej przeglądarki. Korzystanie z naszej strony bez zmiany ustawień oznacza zgodę na przechowywanie cookies w Twoim urządzeniu.

Publikacje Pracowników Politechniki Lubelskiej

MNiSW
15
WOS
Status:
Autorzy: Studenyak Ihor P., Izai Vitalii Yu., Studenyak Viktor I., Bendak Andrij V., Kranjčec Mladen, Kus Peter, Mikula Marian, Grancic Bronislav, Roch Tomas, Suleimenov Batyrbek, Ławicki Tomasz, Gurov Egor
Dyscypliny:
Aby zobaczyć szczegóły należy się zalogować.
Wersja dokumentu: Drukowana | Elektroniczna
Arkusze wydawnicze: 0,5
Język: angielski
Strony: 1480 - 1486
Web of Science® Times Cited: 0
Scopus® Cytowania: 1
Bazy: Web of Science | Scopus
Efekt badań statutowych NIE
Materiał konferencyjny: TAK
Nazwa konferencji: XL-th IEEE-SPIE Joint Symposium on Photonics, Web Engineering, Electronics for Astronomy and High Energy Physics Experiments
Skrócona nazwa konferencji: XL SPIE-IEEE-PSP 2017
URL serii konferencji: LINK
Termin konferencji: 28 maja 2017 do 6 czerwca 2017
Miasto konferencji: Wilga
Państwo konferencji: POLSKA
Publikacja OA: NIE
Abstrakty: angielski
Cu6PS5I-based thin films were deposited onto silicate glass substrates by magnetron sputtering. Chemical composition of the thin films was determined by energy-dispersive X-ray spectroscopy. With increasing Cu content, a red shift of the exponential absorption edge energy position as well as a decrease of the Urbach energy are observed. Optical transmission spectra of Cu8.05P0.68S3.54I0.73 thin film were investigated in the temperature interval 77-300 K; the temperature behaviour of the optical absorption spectra and the refractive index dispersion was studied. Temperature dependences of the energy position of the absorption edge, the Urbach energy, and the refractive index of the Cu8.05P0.68S3.54I0.73 thin film were analysed. The influence of structural disorder on the optical properties of the Cu6PS5I-based thin films is discussed