Informacja o cookies

Zgadzam się Nasza strona zapisuje niewielkie pliki tekstowe, nazywane ciasteczkami (ang. cookies) na Twoim urządzeniu w celu lepszego dostosowania treści oraz dla celów statystycznych. Możesz wyłączyć możliwość ich zapisu, zmieniając ustawienia Twojej przeglądarki. Korzystanie z naszej strony bez zmiany ustawień oznacza zgodę na przechowywanie cookies w Twoim urządzeniu.

Publikacje Pracowników Politechniki Lubelskiej

Publikacje Pracowników PL z lat 1990-2010

Publikacje pracowników Politechniki Lubelskie z lat 1990-2010 dostępne są jak dotychczas w starej bazie publikacji
LINK DO STAREJ BAZY

MNiSW
15
WOS
Status:
Autorzy: Markina Olga M., Markin Maksym O., Filippova Maryna V., Harasim Damian, Mussabekov Kanat, Annabaev Azamat
Dyscypliny:
Aby zobaczyć szczegóły należy się zalogować.
Wersja dokumentu: Drukowana | Elektroniczna
Arkusze wydawnicze: 0,5
Język: angielski
Strony: 1876 - 1882
Web of Science® Times Cited: 0
Scopus® Cytowania: 2
Bazy: Web of Science | Scopus
Efekt badań statutowych NIE
Materiał konferencyjny: TAK
Nazwa konferencji: XL-th IEEE-SPIE Joint Symposium on Photonics, Web Engineering, Electronics for Astronomy and High Energy Physics Experiments
Skrócona nazwa konferencji: XL SPIE-IEEE-PSP 2017
URL serii konferencji: LINK
Termin konferencji: 28 maja 2017 do 6 czerwca 2017
Miasto konferencji: Wilga
Państwo konferencji: POLSKA
Publikacja OA: NIE
Abstrakty: angielski
The optical-electronic system for measuring of geometrical parameters of micrometrical objects is a difficult process that requires the observance of certain features designing or improvement. The observance of that will provide a higher measurement accuracy compared with the accuracy metrics of measurement that were developed without compliance with these design features. Every feature of the design reduces the error of the functioning of individual nodes of the system or errors in nodes under the influence of various internal or external factors. When reducing or eliminating each factor of occurrence of the error, respectively, will increase the overall measurement accuracy. In this work, the result of introducing measurement error for each factor is determined experimentally and proved the correctness of such actions. Experimental researches of the measurement error to the stage of compliance with subtleties in the improvement of the opto-electronic system was 10 +/- 1.5 mu m, and after improvement with considering of the specifics of the design measurement error of geometrical parameters was 10 +/- 0,33 mu m.