Informacja o cookies

Zgadzam się Nasza strona zapisuje niewielkie pliki tekstowe, nazywane ciasteczkami (ang. cookies) na Twoim urządzeniu w celu lepszego dostosowania treści oraz dla celów statystycznych. Możesz wyłączyć możliwość ich zapisu, zmieniając ustawienia Twojej przeglądarki. Korzystanie z naszej strony bez zmiany ustawień oznacza zgodę na przechowywanie cookies w Twoim urządzeniu.

Publikacje Pracowników Politechniki Lubelskiej
MNiSW
15
WOS
Status:
Autorzy: Kolobrodov Valentin G., Tymchik Grygorij S., Kolobrodov Mykyta S., Vasyura Anatoliy S. , Komada Paweł, Azeshova Zhanar
Dyscypliny:
Aby zobaczyć szczegóły należy się zalogować.
Wersja dokumentu: Drukowana | Elektroniczna
Arkusze wydawnicze: 0,7
Język: angielski
Strony: 256 - 263
Web of Science® Times Cited: 2
Scopus® Cytowania: 15
Bazy: Web of Science | Scopus
Efekt badań statutowych NIE
Materiał konferencyjny: TAK
Nazwa konferencji: The Summer XLII-nd IEEE-SPIE Joint Symposium on Photonics, Web Engineering, Electronics for Astronomy and HIgh Energy Physic Experiments
Skrócona nazwa konferencji: XLII SPIE-IEEE-PSP 2018
URL serii konferencji: LINK
Termin konferencji: 3 czerwca 2018 do 10 czerwca 2018
Miasto konferencji: Wilga
Państwo konferencji: POLSKA
Publikacja OA: NIE
Abstrakty: angielski
In this article, we investigate the mathematical model of a digital optoelectronic processor for the purpose of determining the signal at the processor's output. The study of the model allows us to determine the distortions of the input signal of the processor, which are caused by the matrix spatio-temporal modulator. The developed physical and mathematical model of the processor made it possible to obtain an analytical expression for the signal at the processor's output. Its analysis shows that the formula for determining the spatial frequency differs significantly from the traditional formula. The spatial frequency depends on positions of the central and side maxima in the first-order diffraction maximum. In this case, the signal spectrum can be determined by measuring the lateral maximum, which is located closer to the optical axis of the processor. This allows to use of smaller matrix detectors, as well as to investigate the signal spectrum beyond the Nyquist frequency of the modulator.