Sposób oceny szybkości degradacji powłok ochronnych styków łączników aparatowych niskiego napięcia
Patent
MNiSW
25
WUP
Uprawniony: | Paweł Żukowski, Czesław Karwat, Czesław Kozak, Mariusz Kolasik |
Twórcy: | Żukowski Paweł, Karwat Czesław, Kozak Czesław, Kolasik Mariusz |
Nr patentu: | B1 214902 |
Data opublikowania: | 2013 |
Wersja dokumentu: | Drukowana |
Język: | polski |
Numer czasopisma: | 9 |
Strony: | 2239 - 2239 |