Method of evaluating the level of confidence based on metrological risks for determining the coverage factor in the concept of uncertainty
Fragment książki (Materiały konferencyjne)
MNiSW
15
WOS
Status: | |
Autorzy: | Vasilevskyi Olexander M., Didych Volodymyr M., Kravchenko Anna, Yakovlev Maksym, Andrikevych Iryna, Kompanets Dmytro, Danylyuk Yevhen, Wójcik Waldemar, Nurmakhambetov Askhat |
Dyscypliny: | |
Aby zobaczyć szczegóły należy się zalogować. | |
Wersja dokumentu: | Drukowana | Elektroniczna |
Arkusze wydawnicze: | 0,5 |
Język: | angielski |
Strony: | 714 - 719 |
Web of Science® Times Cited: | 5 |
Scopus® Cytowania: | 24 |
Bazy: | Web of Science | Scopus |
Efekt badań statutowych | NIE |
Materiał konferencyjny: | TAK |
Nazwa konferencji: | The Summer XLII-nd IEEE-SPIE Joint Symposium on Photonics, Web Engineering, Electronics for Astronomy and HIgh Energy Physic Experiments |
Skrócona nazwa konferencji: | XLII SPIE-IEEE-PSP 2018 |
URL serii konferencji: | LINK |
Termin konferencji: | 3 czerwca 2018 do 10 czerwca 2018 |
Miasto konferencji: | Wilga |
Państwo konferencji: | POLSKA |
Publikacja OA: | NIE |
Abstrakty: | angielski |
A method for estimating the level of confidence for determining the coverage factor based on metrological risks is proposed using the example of using information on tolerances and uncertainty of measuring the activity of ions, which allows to establish a reasonable interval around the measurement result, within which most of the values that can be justified are assigned to the measured value. |