Changes in the activation energy of radiation defects strongly defected silicon depending on the type and concentration of dopant
Fragment książki (Abstrakt)
| Status: | |
| Autorzy: | Węgierek Paweł, Billewicz Piotr |
| Wersja dokumentu: | Drukowana |
| Język: | angielski |
| Strony: | 165 - 165 |
| Efekt badań statutowych | NIE |
| Materiał konferencyjny: | NIE |
| Publikacja OA: | NIE |