Changes in the activation energy of radiation defects strongly defected silicon depending on the type and concentration of dopant
Fragment książki (Abstrakt)
Status: | |
Autorzy: | Węgierek Paweł, Billewicz Piotr |
Wersja dokumentu: | Drukowana |
Język: | angielski |
Strony: | 165 - 165 |
Efekt badań statutowych | NIE |
Materiał konferencyjny: | NIE |
Publikacja OA: | NIE |