Informacja o cookies

Zgadzam się Nasza strona zapisuje niewielkie pliki tekstowe, nazywane ciasteczkami (ang. cookies) na Twoim urządzeniu w celu lepszego dostosowania treści oraz dla celów statystycznych. Możesz wyłączyć możliwość ich zapisu, zmieniając ustawienia Twojej przeglądarki. Korzystanie z naszej strony bez zmiany ustawień oznacza zgodę na przechowywanie cookies w Twoim urządzeniu.

Publikacje Pracowników Politechniki Lubelskiej
MNiSW
20
Poziom I
Status:
Autorzy: Kołtunowicz Tomasz, Czarnacka Karolina, Fedotov Aleksander K.
Dyscypliny:
Aby zobaczyć szczegóły należy się zalogować.
Wersja dokumentu: Drukowana | Elektroniczna
Arkusze wydawnicze: 0,56
Język: angielski
Strony: 369 - 376
Scopus® Cytowania: 0
Bazy: Scopus
Efekt badań statutowych NIE
Materiał konferencyjny: NIE
Publikacja OA: NIE
Abstrakty: angielski
The following paper presents the method of obtaining silicon nanocrystals in a matrix of zirconium dioxide and the results of measurements of electrical properties. The tested material was produced by alternating vacuum evaporation with SiOx and ZrO2 and then annealed to obtain silicon nanocrystals. The measurement parameters in the function of temperature and frequency were: capacitance, resistance, the angle of phase shift and tangent of dielectric losses. On this basis, and referring to the dimensions of the sample, conductivity was determined as a function of temperature and frequency. Thanks to this, the mechanism of charge transfer and the nature of the material have been proposed.