Baza Publikacji Pracowników Politechniki Lubelskiej

Status:
Autorzy:	Chocyk Dariusz, Zientarski Tomasz
Dyscypliny:
	Aby zobaczyć szczegóły należy się zalogować.
Rok wydania:	2020
Wersja dokumentu:	Drukowana \| Elektroniczna
Język:	angielski
Numer czasopisma:	9
Wolumen/Tom:	36
Strony:	966 - 971
Impact Factor:	1,92
Web of Science® Times Cited:	0
Scopus® Cytowania:	0
Bazy:	Web of Science \| Scopus
Efekt badań statutowych	NIE
Materiał konferencyjny:	TAK
Nazwa konferencji:	XXIV Conference on Applied Crystallography
Termin konferencji:	2 września 2018 do 6 września 2018
Miasto konferencji:	Arłamów
Państwo konferencji:	POLSKA
Publikacja OA:	NIE
Abstrakty:	angielski
	Molecular dynamics simulations are carried out to study the evolution of stress during deposition of atoms on the (001) plane of an FCC crystal, using rectangular simulation box with x–y periodic boundary conditions. The system consists of grains and boundaries. In the current study, we consider different values of the grain-to-grain distances and different relative sizes of deposited atoms. The structure was determined by the kinematical scattering theory. The main factors influencing the stress in thin film systems are creating of dislocation and changing the crystalline structure in grains. The deposited atoms can significantly contribute to the total stress. Depending on their size, atoms contribute compressive or tensile stresses to the total stress.

The effect of size on structure and stress in grained films