Informacja o cookies

Zgadzam się Nasza strona zapisuje niewielkie pliki tekstowe, nazywane ciasteczkami (ang. cookies) na Twoim urządzeniu w celu lepszego dostosowania treści oraz dla celów statystycznych. Możesz wyłączyć możliwość ich zapisu, zmieniając ustawienia Twojej przeglądarki. Korzystanie z naszej strony bez zmiany ustawień oznacza zgodę na przechowywanie cookies w Twoim urządzeniu.

Publikacje Pracowników Politechniki Lubelskiej
Status:
Autorzy: Hotra Oleksandra, Boyko Oksana
Rok wydania: 2012
Język: angielski
Źródło: Warsztaty Doktoranckie WD 2012 oraz Letnia Szkoła Metod Numerycznych, 9-11.07.2012, Lublin
Państwo wystąpienia: POLSKA
Efekt badań statutowych NIE
Abstrakty: polski | angielski
Przeprowadzono badania mostkowych rezystancyjnych przetworników zawierających rezystory cienkowarstwowe. Otrzymano zależności temperaturowe opisujące błędy rezystancji spowodowane dwuwarstwową strukturą rezystorów. Opracowano mikroprocesorowy przyrząd do pomiaru temperatury wykorzystujący dwuwarstwowe struktury rezystancyjne.
Bridge resistive transducers based on thin film thermoresistors were investigated. The temperature dependencies of errors of resistance exhibited by the two-layer structure are obtained. The microprocessor temperature device is elaborated on base of shifted two-layer resistive structures.