Baza Publikacji Pracowników Politechniki Lubelskiej

Status:
Autorzy:	Hotra Oleksandra, Boyko Oksana
Rok wydania:	2012
Język:	angielski
Źródło:	Warsztaty Doktoranckie WD 2012 oraz Letnia Szkoła Metod Numerycznych, 9-11.07.2012, Lublin
Państwo wystąpienia:	POLSKA
Efekt badań statutowych	NIE
Abstrakty:	polski \| angielski
	Przeprowadzono badania mostkowych rezystancyjnych przetworników zawierających rezystory cienkowarstwowe. Otrzymano zależności temperaturowe opisujące błędy rezystancji spowodowane dwuwarstwową strukturą rezystorów. Opracowano mikroprocesorowy przyrząd do pomiaru temperatury wykorzystujący dwuwarstwowe struktury rezystancyjne.
	Bridge resistive transducers based on thin film thermoresistors were investigated. The temperature dependencies of errors of resistance exhibited by the two-layer structure are obtained. The microprocessor temperature device is elaborated on base of shifted two-layer resistive structures.

Temperature measuring device based on thin film thermoresistors