Informacja o cookies

Zgadzam się Nasza strona zapisuje niewielkie pliki tekstowe, nazywane ciasteczkami (ang. cookies) na Twoim urządzeniu w celu lepszego dostosowania treści oraz dla celów statystycznych. Możesz wyłączyć możliwość ich zapisu, zmieniając ustawienia Twojej przeglądarki. Korzystanie z naszej strony bez zmiany ustawień oznacza zgodę na przechowywanie cookies w Twoim urządzeniu.

Publikacje Pracowników Politechniki Lubelskiej

Status:
Warianty tytułu:
Influence of the operating wear of spindle bearings of CNC milling machine on the inspection probe measurement uncertainty
Autorzy: Jacniacka Elżbieta, Semotiuk Leszek
Rok wydania: 2012
Wersja dokumentu: Drukowana
Język: polski
Numer czasopisma: 3
Strony: 22 - 28
Efekt badań statutowych NIE
Materiał konferencyjny: NIE
Publikacja OA: NIE
Abstrakty: polski | angielski
Wykorzystanie sond inspekcyjnych w pomiarach na obrabiarkach sterowanych numerycznie staje się coraz bardziej powszechne. Jednym z głównych czynników mającym wpływ na niedokładność pomiaru przedmiotów obrabianych jest dokładność geometryczna obrabiarki. Eksploatacja obrabiarek prowadzi do zużywania się jej podzespołów, ich remontów a nawet wymiany na nowe, co może mieć wpływ na zmianę charakterystyki metrologicznej wewnątrzobrabiarkowych systemów pomiarowych. Niniejszy artykuł ma na celu analizę jednoosiowej niepewności pomiaru przed i po wymianie łożysk wrzeciona pionowego centrum obróbkowego FV-580A wyposażonego w przedmiotową sondę pomiarową OMP 60.
The use of inspection probes in measurements on CNC machine tools is becoming more common. One of the main factors affecting the uncertainty of measurement of workpieces is the geometric accuracy of machine tools. Using of machine tools leads to components wear, repair or even replacement by new ones, which can affect the change in metrological characteristics of intra-machining measuring systems. The aim of the paper was analysis of uniaxial measurement uncertainty before and after replacing bearings in vertical spindle of machining center FV-580A equipped with the OMP60 probe.