Informacja o cookies

Zgadzam się Nasza strona zapisuje niewielkie pliki tekstowe, nazywane ciasteczkami (ang. cookies) na Twoim urządzeniu w celu lepszego dostosowania treści oraz dla celów statystycznych. Możesz wyłączyć możliwość ich zapisu, zmieniając ustawienia Twojej przeglądarki. Korzystanie z naszej strony bez zmiany ustawień oznacza zgodę na przechowywanie cookies w Twoim urządzeniu.

Publikacje Pracowników Politechniki Lubelskiej

Publikacje Pracowników PL z lat 1990-2010

Publikacje pracowników Politechniki Lubelskie z lat 1990-2010 dostępne są jak dotychczas w starej bazie publikacji
LINK DO STAREJ BAZY

Status:
Autorzy: Lozbin Viktor, Hotra Oleksandra, Bylicki Piotr
Rok wydania: 2012
Wersja dokumentu: Drukowana | Elektroniczna
Język: angielski
Numer czasopisma: 6
Wolumen/Tom: 88
Strony: 95 - 97
Web of Science® Times Cited: 0
Bazy: Web of Science
Efekt badań statutowych NIE
Materiał konferencyjny: NIE
Publikacja OA: NIE
Abstrakty: polski | angielski
W artykule przeanalizowano nową metodę wyznaczania elektrycznych oraz termicznych parametrów ogniw Peltiera. Otrzymane wyniki dają możliwość optymalizowania chłodziarek termoelektrycznych w celu osiągnięcia najbardziej efektywnego punktu pracy. W czterostopniowej chłodziarce termoelektrycznej zoptymalizowanej przy użyciu proponowanej metody otrzymana temperatura może być bardzo bliska temperaturze nadprzewodnictwa HgBa2CaCu2O6+δ. Badany element Peltiera nie ulega uszkodzeniu podczas testu i może być dalej używany. (Wykorzystanie metody badań ogniw Peltiera do optymalizacji ich punktu pracy w celu osiągania temperatur nadprzewodnictwa
A new method for determining electric and thermal characteristics of Peltier devices is analyzed with the aim of optimization of Peltier devices. Obtained results give the possibility to optimize thermoelectric cooler systems to reach most efficient operating state and to achieve the lowest possible temperature. In optimized by proposed method four stage Peltier cooling cascade the achieved temperature could be near to the superconducting transition temperature of HgBa2CaCu2O6+δ. Peltier device is not damaged during the test process and still can be used.