Forming of TiO2 clusters and changes of crystal structure of Ti 6Al 4V alloy after irradiation with 250 MeV krypton ions
Artykuł w czasopiśmie
| Status: | |
| Warianty tytułu: |
Wytwarzanie klastrów TiO2 i zmiany struktury krystalicznej stopu Ti-6Al-4V naświetlanego szybkimi jonami Kr o energii 250 MeV
|
| Autorzy: | Budzyński Piotr |
| Rok wydania: | 2008 |
| Wersja dokumentu: | Drukowana | Elektroniczna |
| Język: | angielski |
| Numer czasopisma: | 3 |
| Wolumen/Tom: | 84 |
| Strony: | 168 - 170 |
| Bazy: | BazTech |
| Efekt badań statutowych | NIE |
| Materiał konferencyjny: | NIE |
| Publikacja OA: | NIE |
| Abstrakty: | polski | angielski |
| W pracy przedstawiono wyniki badań nad możliwościami otrzymywania TiO2 na powierzchni stopu tytanu w temperaturze pokojowej. Próbki wykonane z Ti-6Al-4V naświetlane były szybkimi jonami Kr o energii 250 MeV. Badania topografii modyfikowanych powierzchni wykonano za pomocą mikroskopu sił atomowych (AFM). Zaobserwowano, że napromieniowane miejsca stają się początkiem formowania klastrów TiO2 na powierzchni próbki, które następnie samoistnie się rozrastają po ustaniu implantacji. Identyfikację tlenków tytanu przeprowadzono za pomocą rentgenowskiej spektroskopii fotoemisyjnej (XPS). Badania strukturalne wykonano przy użyciu pomiarów dyfrakcji rentgenowskiej przy kątach połysku (GXRD). Wykazały one powstanie na powierzchni próbki nowej fazy o strukturze hcp w ilości ok. 15% w przypadku implantacji jonami Kr w dawce 1014 Kr/cm-2. Pomiary dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego (XRD) potwierdziły zmniejszenie rozmiarów ziaren po implantacji oraz wzrost naprężeń wewnętrznych zależnie do dawki implantowanych jonów. | |
| The study presents the possibilities of obtaining TiO2 on titanium alloy surfaces at room temperatures. Samples made of Ti-6Al-4V were irradiated with swift Kr ions with the energy of 250 MeV. Topography tests of modified surfaces were carried out with atomic force microscopy (AFM). It has been stated that TiO2 clusters start to form on the irradiated areas of the samples surface and the intrinsically grows once the implantation is discontinued. The oxide identification was made using X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). Structural tests were carried out using a grazing angle X-ray diffraction (GXRD). The tests have shown the development of a new phase on approx. 15% of the samples surface when exposed to 1014 Kr/cm2 fluence of Kr ions. XRD masurements confirmed the reduced grain size after implantation and increase of internal stresses depending on the implanted ion fluence. |
