Badania mikrostruktury powierzchni osadzanych chemicznie matryc SiO2 jako nośników funkcjonalnych elementów optoelektroniki
Artykuł w czasopiśmie
| Status: | |
| Warianty tytułu: |
Investigations of a microrelief of a surface of chemically deposited matrixes SiO2 – carriers of functional elements for optoelectronics
|
| Autorzy: | Kołtunowicz Tomasz, Lugin Valerij, Zarskij Ivan, Kamliuk Tatiana |
| Rok wydania: | 2010 |
| Wersja dokumentu: | Drukowana | Elektroniczna |
| Język: | polski |
| Numer czasopisma: | 7 |
| Wolumen/Tom: | 86 |
| Strony: | 276 - 277 |
| Bazy: | BazTech |
| Efekt badań statutowych | NIE |
| Materiał konferencyjny: | NIE |
| Publikacja OA: | NIE |
| Abstrakty: | polski | angielski |
| W pracy zbadano strukturalne i optyczne właściwości cienkowarstwowych matryc na bazie SiO2 wytworzonych techniką zol-żel używanych do wykrywania amoniaku. Określono związek pomiędzy właściwościami strukturalnymi oraz odpowiedzią optyczną przy detekcji amoniaku. Wykazano możliwość zastosowania wytworzonych warstw w analizatorach gazów. | |
| The paper present structural and optical properties of thin-layer matrices on base SiO2 formed by sol-gel technology was used to detect ammonia. Relations between structural properties and optical response at ammonia detection was determined. Chance of application of created layers in the gas analyzer was showed. |
