Stanowisko do badania temperaturowych i częstotliwościowych zależności właściwości elektrofizycznych implantowanych półprzewodników
Artykuł w czasopiśmie
| Status: | |
| Warianty tytułu: |
Station to testing temperature and frequency dependence of electrophysical properties of semiconductors expose to implantation
|
| Autorzy: | Kołtunowicz Tomasz |
| Rok wydania: | 2007 |
| Wersja dokumentu: | Drukowana | Elektroniczna |
| Język: | polski |
| Numer czasopisma: | 10 |
| Wolumen/Tom: | 48 |
| Strony: | 37 - 40 |
| Bazy: | BazTech |
| Efekt badań statutowych | NIE |
| Materiał konferencyjny: | NIE |
| Publikacja OA: | NIE |
| Abstrakty: | polski | angielski |
