Informacja o cookies

Zgadzam się Nasza strona zapisuje niewielkie pliki tekstowe, nazywane ciasteczkami (ang. cookies) na Twoim urządzeniu w celu lepszego dostosowania treści oraz dla celów statystycznych. Możesz wyłączyć możliwość ich zapisu, zmieniając ustawienia Twojej przeglądarki. Korzystanie z naszej strony bez zmiany ustawień oznacza zgodę na przechowywanie cookies w Twoim urządzeniu.

Publikacje Pracowników Politechniki Lubelskiej

MNiSW
10
Lista B
Status:
Warianty tytułu:
Wykrywanie defektów materiałowych metodą pośrednią poprzez wyznaczenie wydłużeń względnych czujnikiem FBG
Autorzy: Kisała Piotr
Rok wydania: 2013
Wersja dokumentu: Drukowana | Elektroniczna
Język: angielski
Numer czasopisma: 1a
Wolumen/Tom: 89
Strony: 29 - 33
Bazy: Inspect | Scopus | BazTech
Efekt badań statutowych NIE
Materiał konferencyjny: NIE
Publikacja OA: NIE
Abstrakty: polski | angielski
W niniejszym artykule zaprezentowana została metoda wykrywania błędów i defektów w materiałach o znanym współczynnikuYounga. Użyty model czujnika FBG (opartego na światłowodowej siatce Bragga), został przetestowany w warunkach laboratoryjnych w procesiediagnozowania różnych defektów na przygotowanych do badań próbkach. Na podstawie dokonanych pomiarów i przeprowadzonych badań, widać wjakim stopniu czujnik optoelektroniczny wykazuje zdolność wykrywania zaburzeń i defektów. Rozdzielczość liniowa pomiaru wydłużenia przywykorzystaniu zaproponowanej metody wyniosła 1.25 mm. Przeprowadzone badania potwierdziły występowanie defektów, które były rozstawione wodległości 3.14 mm. W przypadku badanych próbek materiału różnice w lokalizacji maksymalnego wydłużenia wyniosły ok. 0.6 mm. (Wykrywaniedefektów materiałowych metodą pośrednią poprzez wyznaczenie wydłużeń względnych czujnikiem FBG).
This paper presents a method of detecting errors and defects in materials with a known Young modulus. The FBG (fiber Bragg grating)sensor used in the model was tested under the laboratory conditions when diagnosing various defects in the samples prepared for testing. Based onthe performed measurements and research, the extent of the optoelectronic sensor ability to detect abnormalities and defects was shown. The linearmeasuring resolution of the expansion with the proposed method was 1.25 mm. The studies confirmed the presence of defects, which were spacedat a distance of 3.14 mm. In the case of samples of material studied, the differences in location of the maximum elongation amounted to approximately 0.6 mm