Określenie szybkości degradacji warstw ochronnych łączników przy pomocy spektroskopii rentgenowskiej
Artykuł w czasopiśmie
| Status: | |
| Warianty tytułu: |
Determination of the degradation rate of protective coatings of switches by means of the x-ray spectroscopy
|
| Autorzy: | Karwat Czesław |
| Rok wydania: | 2006 |
| Wersja dokumentu: | Drukowana | Elektroniczna |
| Język: | polski |
| Numer czasopisma: | 8 |
| Wolumen/Tom: | 44 |
| Strony: | 34 - 37 |
| Bazy: | BazTech |
| Efekt badań statutowych | NIE |
| Materiał konferencyjny: | NIE |
| Publikacja OA: | NIE |
| Abstrakty: | polski | angielski |
| W artykule przedstawiono wyniki badań szybkości uszkadzania się warstwy ochronnej srebra naniesionej na styki miedziane łącznika instalacyjnego. Sformułowano odpowiednie wnioski dotyczące doboru odpowiedniej grubości pokrycia srebrem dla danych warunków pracy zestyku łącznika | |
| The results of the tests of the damage rate of protective silver coating spread on the switch contacts made of copper have been presented in the paper. There have been formulated the adequate conclusions relating to the choice of a suitable silver coating for the given operating conditions of the contacts |
