Baza Publikacji Pracowników Politechniki Lubelskiej

Status:
Autorzy:	Hotra Oleksandra, Boyko Oksana
Rok wydania:	2012
Wersja dokumentu:	Drukowana \| Elektroniczna
Język:	angielski
Numer czasopisma:	260
Strony:	207 - 218
Efekt badań statutowych	NIE
Materiał konferencyjny:	NIE
Publikacja OA:	TAK
Licencja:
Sposób udostępnienia:	Inne
Wersja tekstu:	Ostateczna wersja opublikowana
Czas opublikowania:	W momencie opublikowania
Abstrakty:	polski \| angielski
	W artykule opisano przetworniki mostkowo - rezystancyjne zbudowane na bazie cienkowarstwowych termorezystorów. Otrzymano temperaturowe zależności opisujące niedokładności przetwarzania spowodowane przez dwuwarstwową strukturę termorezystancyjną. W oparciu o dwuwarstwową strukturę przetwornika opracowano mikroprocesorowy przyrząd pomiaru temperatury.
	Bridge resistive transducers based on thin film thermoresistors were investigated. The temperature dependencies of resistance errors introduced by the method of two-layer structure are obtained. The microprocessor temperature device is elaborated on the base of shifted two-layer resistive structures.

Temperature measuring device based on thin film thermoresistors