Informacja o cookies

Zgadzam się Nasza strona zapisuje niewielkie pliki tekstowe, nazywane ciasteczkami (ang. cookies) na Twoim urządzeniu w celu lepszego dostosowania treści oraz dla celów statystycznych. Możesz wyłączyć możliwość ich zapisu, zmieniając ustawienia Twojej przeglądarki. Korzystanie z naszej strony bez zmiany ustawień oznacza zgodę na przechowywanie cookies w Twoim urządzeniu.

Publikacje Pracowników Politechniki Lubelskiej
Status:
Autorzy: Hotra Oleksandra, Boyko Oksana
Rok wydania: 2012
Wersja dokumentu: Drukowana | Elektroniczna
Język: angielski
Numer czasopisma: 260
Strony: 207 - 218
Efekt badań statutowych NIE
Materiał konferencyjny: NIE
Publikacja OA: TAK
Licencja:
Sposób udostępnienia: Inne
Wersja tekstu: Ostateczna wersja opublikowana
Czas opublikowania: W momencie opublikowania
Abstrakty: polski | angielski
W artykule opisano przetworniki mostkowo - rezystancyjne zbudowane na bazie cienkowarstwowych termorezystorów. Otrzymano temperaturowe zależności opisujące niedokładności przetwarzania spowodowane przez dwuwarstwową strukturę termorezystancyjną. W oparciu o dwuwarstwową strukturę przetwornika opracowano mikroprocesorowy przyrząd pomiaru temperatury.
Bridge resistive transducers based on thin film thermoresistors were investigated. The temperature dependencies of resistance errors introduced by the method of two-layer structure are obtained. The microprocessor temperature device is elaborated on the base of shifted two-layer resistive structures.