Badanie szybkości degradacji warstw ochronnych styków na podstawie analizy widm łuku elektrycznego
Artykuł w czasopiśmie
| Status: | |
| Warianty tytułu: |
Research on rate of degradation of protective layers of contacts based on the analysis of the electric arc
|
| Autorzy: | Karwat Czesław, Kolasik Mariusz, Kozak Czesław, Żukowski Paweł, Shnip Alexander |
| Rok wydania: | 2005 |
| Wersja dokumentu: | Drukowana | Elektroniczna |
| Język: | polski |
| Numer czasopisma: | 7 |
| Wolumen/Tom: | 43 |
| Strony: | 105 - 107 |
| Efekt badań statutowych | NIE |
| Materiał konferencyjny: | NIE |
| Publikacja OA: | NIE |
| Abstrakty: | polski | angielski |
| W artykule przedstawiono sposób określania pierwiastków wchodzących w skład powłoki ochronnej styków łączników za pomocą spektrofotometru oraz wyznaczanie szybkości zużycia warstwy przypowierzchniowej na podstawie zmian natężeń ich linii widmowych. | |
| A manner for determination of elements being included in protective layers of contacts by means of spectrophotometer as well as determination of wear rate of surface layer based on changes of intensity of spectral lines of elements have been presented in the paper. |
