Concept of in Situ Metrological Service of Analog-to-Digital Converters for Devices Compatible with the Internet of Things
Fragment książki (Rozdział monografii pokonferencyjnej)
MNiSW
5
spoza wykazu
| Status: | |
| Autorzy: | Aibo Xu, Kochan Orest, Przystupa Krzysztof, Kochan Volodymyr |
| Dyscypliny: | |
| Aby zobaczyć szczegóły należy się zalogować. | |
| Wersja dokumentu: | Drukowana | Elektroniczna |
| Język: | angielski |
| Strony: | 292 - 295 |
| Scopus® Cytowania: | 0 |
| Bazy: | Scopus |
| Efekt badań statutowych | NIE |
| Materiał konferencyjny: | TAK |
| Nazwa konferencji: | 14th International Conference on Measurement |
| Skrócona nazwa konferencji: | MEASUREMENT 2023 |
| URL serii konferencji: | LINK |
| Termin konferencji: | 29 maja 2023 do 31 maja 2023 |
| Miasto konferencji: | Smolenice Castle |
| Państwo konferencji: | SŁOWACJA |
| Publikacja OA: | NIE |
| Abstrakty: | angielski |
| The methods for determining error due to nonlinearity of analog-to-digital converters (ADCs) during operation by averaging voltage drops across resistors of the same nominal resistance are summarized. The components of errors of determining the nonlinearity of the ADC are estimated. The properties of the methods were compared, and the best ones were selected for different operating conditions. |
