Automatic Setup for Characterizing Structures Exhibiting Magnetoresistive Effects
Artykuł w czasopiśmie
MNiSW
70
Lista 2024
Status: | |
Warianty tytułu: |
Automatyczne stanowisko do charakteryzacji
struktur wykazujących efekty magnetorezystancyjne
|
Autorzy: | Duk Jakub, Kociubiński Andrzej, Duk Mariusz, Czarnacka Karolina |
Dyscypliny: | |
Aby zobaczyć szczegóły należy się zalogować. | |
Rok wydania: | 2024 |
Wersja dokumentu: | Drukowana | Elektroniczna |
Język: | angielski |
Numer czasopisma: | 12 |
Wolumen/Tom: | 100 |
Strony: | 5 - 8 |
Impact Factor: | 0,4 |
Web of Science® Times Cited: | 0 |
Scopus® Cytowania: | 0 |
Bazy: | Web of Science | Scopus |
Efekt badań statutowych | NIE |
Materiał konferencyjny: | NIE |
Publikacja OA: | TAK |
Licencja: | |
Sposób udostępnienia: | Otwarte czasopismo |
Wersja tekstu: | Ostateczna wersja opublikowana |
Czas opublikowania: | W momencie opublikowania |
Data opublikowania w OA: | 1 grudnia 2024 |
Abstrakty: | polski | angielski |
W artykule opisano rozwój zautomatyzowanego systemu pomiarowego struktur cienkowarstwowych wykazujących efekty magnetorezystancyjne, takie jak magnetorezystancja anizotropowa i gigantyczna. System składa się z miernika rezystancji/impedancji oraz stołu do pozycjonowania próbek sterowanego oprogramowaniem Matlab. Podano szczegóły dotyczące konstrukcji systemu, w tym wykorzystania Arduino Nano do sterowania stołem pozycjonującym. Omówiono przykłady zastosowań w pomiarze zmian rezystancji w różnych orientacjach próbek. | |
This article describes the development of an automated measurement system for thin-film structures exhibiting magnetoresistive effects, such as anisotropic and giant magnetoresistance. The system includes a resistance/impedance meter and a sample positioning table controlled by Matlab software. Details on the system's design, including the use of Arduino Nano for controlling the positioning table, are provided. Examples of application in measuring resistance changes in different sample orientations are discussed. |