Metrology and Measurement Systems
Czasopismo (Redakcja czasopisma)
ISSN (print):
2080-9050
/
ISSN (print):
0860-8229
Dyscypliny:
astronomia
automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne
inżynieria biomedyczna
inżynieria lądowa, geodezja i transport
inżynieria materiałowa
inżynieria mechaniczna
inżynieria środowiska, górnictwo i energetyka
nauki fizyczne
nauki o bezpieczeństwie
Historia czasopisma na liscie ministerialnej
| Lata | Lista | Punkty |
|---|---|---|
| 2024 | Lista 2024 | 100 |
| 2023 | Lista 2023 | 100 |
| 2022 | Lista 2021 | 100 |
| 2021 | Lista 2021 | 100 |
| 2020 | Lista 2021 | 100 |
| 2019 | Lista 2021 | 100 |
| 2018 | A | 20 |
| 2017 | A | 20 |
| 2016 | A | 20 |
| 2015 | A | 20 |
| 2014 | A | 15 |
| 2013 | A | 20 |
| 2012 | A | 20 |
| 2011 | A | 20 |
Historia Impact Factor
| Lata | Impact factor |
|---|---|
| 2024 | 1,0 |
| 2023 | 1,0 |
| 2022 | 1,0 |
| 2021 | 1,009 |
| 2020 | 1,155 |
| 2019 | 1,093 |
| 2018 | 1,096 |
| 2017 | 1,523 |
| 2016 | 1,598 |
| 2015 | 1,14 |
| 2014 | 0,925 |
| 2013 | 0,609 |
| 2012 | 0,982 |
| 2011 | 0,764 |
| 2010 | 0,587 |
| Częstotliwość: | Kwartalnik |
| Redakcja: | Smulko Janusz |
| Wersja dokumentu: | Drukowana | Elektroniczna |
| Język: | angielski |
| Wydawnictwo: | Polska Akademia Nauk. Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej |
| JCR: | TAK |
| Polityka OA: |
