Informacja o cookies

Zgadzam się Nasza strona zapisuje niewielkie pliki tekstowe, nazywane ciasteczkami (ang. cookies) na Twoim urządzeniu w celu lepszego dostosowania treści oraz dla celów statystycznych. Możesz wyłączyć możliwość ich zapisu, zmieniając ustawienia Twojej przeglądarki. Korzystanie z naszej strony bez zmiany ustawień oznacza zgodę na przechowywanie cookies w Twoim urządzeniu.

Publikacje Pracowników Politechniki Lubelskiej

MNiSW
140
Lista 2024
Status:
Autorzy: La Quoc Tiep, Vališ David, Vintr Zdeněk, Gajewski Jakub, Žák Libor, Kohl Zdeněk, Cu Zixuan Phong
Dyscypliny:
Aby zobaczyć szczegóły należy się zalogować.
Rok wydania: 2026
Wersja dokumentu: Drukowana | Elektroniczna
Język: angielski
Numer czasopisma: 3
Wolumen/Tom: 28
Strony: 1 - 21
Impact Factor: 3,1
Bazy: BazTech
Efekt badań statutowych NIE
Finansowanie: This article has been prepared with support of the University of Defence, Brno, Czech Republic and in particular the “Partial development intention funding” VAROPS
Materiał konferencyjny: NIE
Publikacja OA: TAK
Licencja:
Sposób udostępnienia: Otwarte czasopismo
Wersja tekstu: Ostateczna wersja opublikowana
Czas opublikowania: W momencie opublikowania
Data opublikowania w OA: 18 lutego 2026
Abstrakty: angielski
Light-emitting diodes (LEDs) have become indispensable in modern applications owing to their high energy efficiency, long lifespan, and robustness compared to conventional light sources. Given these attributes, the reliability of LEDs has become a crucial factor, directly influencing the ability of systems and devices to perform their intended functions over time. However, variations in materials, structures, and manufacturing processes introduce heterogeneity in their degradation behaviour, even under identical operating conditions. In applications demanding brightness stability, colour rendering, and reliability prediction, degradation homogeneity is crucial, making the analysis of LED heterogeneity essential. This article investigates such heterogeneity using feature extraction methods, kernel density estimation, and divergence measures based on degradation data obtained from optimized step-stress accelerated tests. The proposed approach is used to quantify and evaluate LED degradation variability and has clear implications for reliability assessment and predictive modelling.