Elemental composition, topography and wettability of PbxSn1 - xS thin film
Artykuł w czasopiśmie
MNiSW
15
Lista A
| Status: | |
| Autorzy: | Tashlykov Igor S., Turavets Anton I., Gremenok Valery F., Żukowski Paweł |
| Rok wydania: | 2014 |
| Wersja dokumentu: | Drukowana | Elektroniczna |
| Język: | angielski |
| Numer czasopisma: | 6 |
| Wolumen/Tom: | 125 |
| Strony: | 1339 - 1343 |
| Impact Factor: | 0,53 |
| Web of Science® Times Cited: | 0 |
| Scopus® Cytowania: | 0 |
| Bazy: | Web of Science | Scopus | Web of Science Core Collection |
| Efekt badań statutowych | NIE |
| Materiał konferencyjny: | NIE |
| Publikacja OA: | TAK |
| Licencja: | |
| Sposób udostępnienia: | Witryna wydawcy |
| Wersja tekstu: | Ostateczna wersja opublikowana |
| Czas opublikowania: | W momencie opublikowania |
| Abstrakty: | angielski |
| PbSnS thin films were prepared by hot-wall vacuum evaporation. The Rutherford backscattering technique was employed for the investigation of PbxSn1 - xS thin films composition. With a help of atomic force microscopy the main stages in the development of the thin films were characterized. Contact angle measurements of water drop on PbxSn1 - xS thin films have been conducted on our original setup |
