Informacja o cookies

Zgadzam się Nasza strona zapisuje niewielkie pliki tekstowe, nazywane ciasteczkami (ang. cookies) na Twoim urządzeniu w celu lepszego dostosowania treści oraz dla celów statystycznych. Możesz wyłączyć możliwość ich zapisu, zmieniając ustawienia Twojej przeglądarki. Korzystanie z naszej strony bez zmiany ustawień oznacza zgodę na przechowywanie cookies w Twoim urządzeniu.

Publikacje Pracowników Politechniki Lubelskiej

Status:
Autorzy: Ivashchenko Volodymyr I., Rogoz Vladyslav M., Skrynskiy Pavlo L., Kozak Czesław, Opielak Marek
Rok wydania: 2015
Wersja dokumentu: Drukowana | Elektroniczna
Język: angielski
Numer czasopisma: 2
Wolumen/Tom: 19
Strony: 179 - 187
Scopus® Cytowania: 5
Bazy: Scopus
Efekt badań statutowych NIE
Materiał konferencyjny: NIE
Publikacja OA: NIE
Abstrakty: angielski
Nb−Al−N films were deposited by magnetron sputtering of Nb and Al in an atmosphere of Ar−N2 onto silicon wafers, at different currents of magnetron power supply, on which an aluminum (IAl) target is mounted. The films were studied by X-ray diffractometry, nano- and microindentation. The size of nanocrystals, microstrain, nanohardness, and the elastic modulus are extremely dependent on IAl. The films exhibit nanohardness and Knoop hardness in the range 29−33.5 GPa and 46−48 GPa, respectively