Computer measurement of ampacity of thin layers made on textile composite substrate
Artykuł w czasopiśmie
MNiSW
5
spoza listy
| Status: | |
| Autorzy: | Korzeniewska Ewa, Szczęsny Artur, Józwik Jerzy, Tofil Arkadiusz |
| Dyscypliny: | |
| Aby zobaczyć szczegóły należy się zalogować. | |
| Rok wydania: | 2019 |
| Wersja dokumentu: | Drukowana | Elektroniczna |
| Język: | angielski |
| Wolumen/Tom: | 252 |
| Numer artykułu: | 9004 |
| Strony: | 1 - 5 |
| Web of Science® Times Cited: | 0 |
| Bazy: | Web of Science |
| Efekt badań statutowych | NIE |
| Materiał konferencyjny: | TAK |
| Nazwa konferencji: | III International Conference of Computational Methods in Engineering Science (CMES’18) |
| Skrócona nazwa konferencji: | CMES’18 |
| URL serii konferencji: | LINK |
| Termin konferencji: | 22 listopada 2018 do 24 listopada 2018 |
| Miasto konferencji: | Kazimierz Dolny |
| Państwo konferencji: | POLSKA |
| Publikacja OA: | TAK |
| Licencja: | |
| Sposób udostępnienia: | Otwarte czasopismo |
| Wersja tekstu: | Ostateczna wersja opublikowana |
| Czas opublikowania: | W momencie opublikowania |
| Data opublikowania w OA: | 14 stycznia 2019 |
| Abstrakty: | angielski |
| Technology of creating electrical and electronic systems on flexible substrates, with special emphasis on textile substrates, is one of the most important areas in the field of developing textronics, which is applicable in protective clothes. Resistance and ampacity are the key parameters of electrically conductive thin layers formed on such substrates. Authors of this paper present the results of research related to creation of thin-layered, electrically conductive structures on substrates using a vacuum technology of layer application and assess the scope of their usefulness. Measurement of averaged surface temperature and thermal energy emitted at the surface of the structure will be the subject to metrological evaluation. The authors present developed method with Peltier cells used for measuring the average temperature and emitted heat to evaluate these parameters. The described method allows measurement of average values by matching the dimensions of the cell to the surface. The proposed method avoids possible temperature gradient around the point of measure which occurs in contact methods. The test results also pertain to the determination of the resistance of the test surfaces using a balance of generated thermal power which allows evaluation of the process of creating layers. |
