Hue University, Wietnam
Artykuły z 2010 (1)
1. Comparative analysis of the influence of low-energy hydrogen and helium ion-beam treatments on the structural and electrical properties of CzSi wafers / Olga Zinchuk, Aleksander Fedotov, Ngo Xuan Cuong, Alekxander Mazanik, Nina Krekotsen, Viktor Ukhov, Nikolai Stas'kov, Alexander Sotski, Sergey Turishchev, Paweł Węgierek, // Przegląd Elektrotechniczny.- 2010, vol. 86, nr 7, s. 211-214
Jeżeli ta strona zawiera nieaktualne, błędne lub niekompletne dane prosimy o kontakt pod adresem oab@pollub.pl