Belarusian State University, 4 Nezavisimosti Str., 220040 Minsk, Belarus
Artykuły z 2020 (1)
1. Ferromagnetic resonance spectroscopy of CoFeZr-CaF2 granular nanocomposites / Tomasz N. Kołtunowicz, Vitalii Bondariev, Paweł Żukowski, Julia V. Sidorenko, Vadim G. Bayev, and Julia A. Fedotova // Progress in Electromagnetics Research M.- 2020, vol. 91, s. 11-18 [MNiSW: 40]
Artykuły z 2017 (1)
1. Ferromagnetic resonance spectroscopy of CoFeZr-Al2O3 granular films containing “FeCo core – oxide shell” nanoparticles / Tomasz Kołtunowicz, Paweł Żukowski, Julia V. Sidorenko, Vadim G. Bayev, Julia A. Fedotova, Marek Opielak, Andrzej Marczuk // Journal of Magnetism and Magnetic Materials.- 2017, vol. 421, s. 98-102 [MNiSW: 30]
Artykuły z 2012 (1)
1. Elektronowy rezonans paramagnetyczny nanokompozytów (CoFeZr)x(Al2O3)(100-x) wytwarzanych rozpylaniem jonowym / Paweł Żukowski, Tomasz Kołtunowicz, Julia V. Sidorenko, J. Fedotova // Przegląd Elektrotechniczny.- 2012, vol. 88, nr 7a, s. 324-326 [MNiSW: 15]
Artykuły z 2011 (1)
1. Structure and Electron-Transport Properties of Photoresist Implanted by Sb(+) Ions / Natalia Vabishchevich, Dmitrij Brinkevich, Vlas Volobuev, Mikhail G. Lukashevich, Vladislav Prosolovich, Julia V. Sidorenko, Vladimir Odzhaev, Janusz Partyka // Acta Physica Polonica A.- 2011, vol. 120, nr 1, s. 46-48
Artykuły z 2010 (2)
1. Conductivity of Cd1-xFexTe semiconductors at alternating current and temperatures lower than the room temperature / Paweł Żukowski, Tomasz N. Kołtunowicz, Paweł Węgierek, Janusz Partyka, Julia Sidorenko // Przegląd Elektrotechniczny.- 2010, vol. 86, nr 7, s. 75-77
2. Magnetic properties of nanocomposites (CoFeZr)x(Al2O3)1-x / Julia A. Fedotova, Andrey V. Larkin, Tomasz N. Kołtunowicz, Paweł Żukowski, Julia Sidorenko // Przegląd Elektrotechniczny.- 2010, vol. 86, nr 7, s. 296-298
Artykuły z 2007 (1)
1. Alternating current conductivity and electron spin resonance of the Cd1 − x FexTe alloys / P. Zhukovski, Ya. Partyka, P. Vengerek, T. Koltunovich, Yu. Sidorenko V. Stelmakh, and N. Lapchuk // Semiconductors.- 2007, vol. 41, nr 5, s. 526-530
Jeżeli ta strona zawiera nieaktualne, błędne lub niekompletne dane prosimy o kontakt pod adresem oab@pollub.pl