Narodowa Akademia Nauk Białorusi, Fizyko-techniczny Instytut, Mińsk, Białoruś
Artykuły z 2011 (1)
Artykuły z 2010 (2)
1. An effect of rapid thermal annealing on the structure of TiN/Ti/Si / Yuri Yemelianenko, Victor Kolos, Maria Markevich, Viaczeslaw Stelmakh, Arkady Chaplanov, Czesław Karwat // Przegląd Elektrotechniczny.- 2010, vol. 86, nr 7, s. 26-28
2. Structure changes in thin metal films during their thermal treatment / Arkady M. Chaplanov, Maria I. Markeich, Viczeslaw F. Stelmakh, Czesław Kozak // Przegląd Elektrotechniczny.- 2010, vol. 86, nr 7, s. 24-25
Jeżeli ta strona zawiera nieaktualne, błędne lub niekompletne dane prosimy o kontakt pod adresem oab@pollub.pl