Zewnętrzne identyfikatory
| WoS ResearcherID | BRAK |
| ORCID | BRAK |
| Scopus ID | BRAK |
Historia zatrudnienia
| Uniwersytet Śląski w Katowicach | zatrudniony do dnia dzisiejszego |
Trzy ostatnio wprowadzone artykuły autora (1)
The Characteristic of the Multilayer Thin Films by X-Ray Reflectometry Method / Bożena Bierska-Piech, Dariusz Chocyk, Adam Prószyński, Eugeniusz Łągiewka // Solid State Phenomena.- 2010, vol. 163, s. 80-83
Jeżeli ta strona zawiera nieaktualne, błędne lub niekompletne dane prosimy o kontakt pod adresem oab@pollub.pl