Artykuły z 2010 (1)
1. The Characteristic of the Multilayer Thin Films by X-Ray Reflectometry Method / Bożena Bierska-Piech, Dariusz Chocyk, Adam Prószyński, Eugeniusz Łągiewka // Solid State Phenomena.- 2010, vol. 163, s. 80-83
Jeżeli ta strona zawiera nieaktualne, błędne lub niekompletne dane prosimy o kontakt pod adresem oab@pollub.pl