Projekty wynalazcze z 2013 (1)
1. Sposób oceny szybkości degradacji powłok ochronnych styków łączników aparatowych niskiego napięcia / Paweł Żukowski, Czesław Karwat, Czesław Kozak, Mariusz Kolasik ; twórca: Paweł Żukowski, Czesław Karwat, Czesław Kozak, Mariusz Kolasik. - Nr patentu B1 214902 ; Nr zgłoszenia patentowego // Wiadomości Urzędu Patentowego, 2013, nr 9, s. 2239 [MNiSW: 25]
Jeżeli ta strona zawiera nieaktualne, błędne lub niekompletne dane prosimy o kontakt pod adresem oab@pollub.pl