Artykuły z 2025 (1)
1. Application of the machine learning regression algorithms to optimization of the CMM measurement strategies / Jakub Rzeczkowski, Sylwester Samborski, Aleksander Czajka, Mariusz Kłonica, Mateusz Janik, Konrad Krzepek, Piotr Sobecki, Marek Besztak // Measurement Science & Technology.- 2025, vol. 36, nr 11 [MNiSW: 70]
Artykuły z 2024 (2)
1. Digital Twin in Metrology: Opportunities, Current Implementations and Research Challenges / Małgorzata Poniatowska, Dariusz Mazurkiewicz, Piotr Sobecki // Metrologia i Probiernictwo = Metrology & Hallmark.- 2024, vol. 6, s. 1-13 [MNiSW: 5]
2. Virtual tomography as a novel method for segmenting machining process phases with the use of machine learning-supported measurement / Dariusz Mazurkiewicz, Piotr Sobecki, Tomasz Żabiński, Grzegorz Piecuch // Expert Systems with Applications.- 2024, vol. 250, s. 1-16 [MNiSW: 200]
Artykuły z 2023 (1)
Jeżeli ta strona zawiera nieaktualne, błędne lub niekompletne dane prosimy o kontakt pod adresem oab@pollub.pl