Zewnętrzne identyfikatory
| WoS ResearcherID | BRAK |
| ORCID | BRAK |
| Scopus ID | BRAK |
Historia zatrudnienia
| D. Serikbayev East Kazakhstan State Technical University | zatrudniony do dnia dzisiejszego |
Trzy ostatnio wprowadzone artykuły autora (3)
Microstructure and tribomechanical properties of multilayer TiZrN/TiSiN composite coatings with nanoscale architecture by cathodic-arc evaporation / O. V. Maksakova, S. Zhanyssov, S. V. Plotnikov, P. Konarski, P. Budzyński, A. D. Pogrebnjak, V. M. Beresnev, B. O. Mazilin, N. A. Makhmudov, A. I. Kupchishin, and Ya. O. Kravchenko // Journal of Materials Science.- 2021, vol. 56, nr 8, s. 5067-5081 [MNiSW: 100]
Influence of thermal annealing and deposition conditions on structure and physical-mechanical properties of multilayered nanosized TiN/ZrN coatings / A.D. Pogrebnjak, O. V. Bondar , N.K. Erdybaeva, S.V Plotnikov, P.V. Turbin, S.S. Grankin, Vladimir A. Stolbovoy, O.V. Sobol, D. A. Kolesnikov, Czesław Kozak // Przegląd Elektrotechniczny.- 2015, vol. R.91, nr 12, s. 228-232 [MNiSW: 14]
Dependence of mechanical and tribotechnical properties of multilayered TiN/ZrN coatings on deposition / O. V. Bondar , Vladimir A. Stolbovoy, Manarbek K. Kylyshkanov, S.V Plotnikov, N.K. Erdybaeva, Katarzyna Piotrowska, Karolina Czarnacka, Czesław Karwat // Przegląd Elektrotechniczny.- 2015, vol. 91, nr 12, s. 233-236 [MNiSW: 14]
Trzy ostatnio wprowadzone fragmenty książek autora (2)
Researching of high entropy (Ti-Zr- Nb)N coatings’ physical and mechanical properties obtained by vaccum-arc deposition method / S.V Plotnikov, A.D. Pogrebnjak, D.K. Yeskermessov, L.N Yerokhina, Marek Opielak. [W]: 9th International Conference "New Electrical and Electronic Technologies and their Industrial Implementation", NEET 2015, Zakopane, Poland, June 23 – 26, 2015 : [book of abstrcts].- 2015, s. 39-39
Structural features of the multilayer nitride coatings formation / Yaroslav O. Kravchenko, Alexander A. Goncharov, Andrey N. Yunda, Sergei V. Plotnikov, Nazgul K. Yerdybaeva, Oleksandr Boiko. [W]: Advanced Topics in Optoelectronics, Microelectronics, and Nanotechnologies VIII [WOS].- 2016, s. - [MNiSW: 15]
Jeżeli ta strona zawiera nieaktualne, błędne lub niekompletne dane prosimy o kontakt pod adresem oab@pollub.pl