mgr inż. Piotr Billewicz
Zewnętrzne identyfikatory
WoS ResearcherID | A-6929-2013 |
ORCID | 0000-0003-2572-1288 |
Scopus ID | 25122304100 |
Historia zatrudnienia
Katedra Urzadzeń Elektrycznych i Techniki Wysokich Napięć | zatrudniony do dnia dzisiejszego |
Politechnika Lubelska | zatrudniony do 31 grudnia 2011 |
Trzy ostatnio wprowadzone artykuły autora (3)
Opinia absolwentów i pracodawców o jakości kształcenia na Wydziale Elektrotechniki i Informatyki Politechniki Lubleskiej / Andrzej Wac-Włodarczyk, Piotr Billewicz // Wiadomości Elektrotechniczne.- 2009, vol. 77, nr 12, s. 46-47
Lublin University of Technology as a Partner of the Project: Modern Learning – Development of Didactic Potential of the University / A. Wac-Włodarczyk, P. Bilewicz // Elektronika ir Elektrotechnika.- 2010, vol. 102, nr 6, s. 11-14
Badania temperaturowe energii aktywacji defektów radiacyjnych w silnie zdefektowanym krzemie / Paweł Węgierek, Paweł Żukowski, Piotr Billewicz // Przegląd Elektrotechniczny.- 2010, vol. 86, nr 7, s. 293-295
Trzy ostatnio wprowadzone fragmenty książek autora (3)
A Feedback from the Graduates as a Basis of Quality of Education Assessment. Case-study Research at Lublin University of Technology / Andrzej Wac-Włodarczyk, Piotr Billewicz. [W]: 2009 EAEEIE Annual Conference.- 2009, s. 90-94
Performance analysis of energy generation capabilities in roof-mounted photovoltaic systems / Piotr Billewicz, Paweł Węgierek. [W]: 10th International Conference New Electrical and Electronic Technologies and their Industrial Implementation (NEET 2017), 27-30 June 2017, Zakopane : [book of abstrcts].- 2017, s. -
Research on thermal stability of electrical parameters of silicon used in the PV cells production process / Paweł Węgierek, Piotr Billewicz. [W]: 10th International Conference ION Implantation and Other Applications of IONS and Elektrons - ION 2014, Kazimierz Dolny, Poland, June 23–26, 2014 : [book of abstracts].- 2014, s. 112-112
Trzy ostatnio wprowadzone materiały inne (3)
The temperature-directed research into electrical properties of ion-implanted silicon with different type of doping / Paweł Węgierek, Piotr Billewicz. [W]: IX International Conference on Ion Implantation and Other Applications of Ions and Electrons, 25-28 June, 2012, Kazimierz Dolny,
Research on mechanism of electric conductivity in the p-type silicon implanted with Ne+ ions / Paweł Węgierek, Piotr Billewicz. [W]: IX International Conference on Ion Implantation and Other Applications of Ions and Electrons, 25-28 June, 2012, Kazimierz Dolny,
Research on jump mechanism of electric charge transfer probability in gallium arsenide irradiated with H+ ions / Paweł Węgierek, Piotr Billewicz. [W]: 7th International Conference New Electrical and Electronic Technologies and their Industrial Implementation Zakopane, Poland, June 28 – July 1, 2011,
Jeżeli ta strona zawiera nieaktualne, błędne lub niekompletne dane prosimy o kontakt pod adresem oab@pollub.pl