
Ellipsometry Based Spectroscopic Complexfor Rapid Assessment of the Bi2Te3-xSex thin Films Composition
Artykuł w czasopiśmie
MNiSW
20
Lista 2021
Status: | |
Warianty tytułu: |
Elipsometryczny system spektroskopowydo szybkiej oceny składu cienkich warstw Bi2Te3-XSeX
|
Autorzy: | Kovalev Vladimir, Uvaysov Saygid U., Bogucki Marcin |
Dyscypliny: | |
Rok wydania: | 2021 |
Wersja dokumentu: | Drukowana | Elektroniczna |
Język: | angielski |
Numer czasopisma: | 4 |
Wolumen/Tom: | 11 |
Strony: | 67 - 74 |
Scopus® Cytowania: | 0 |
Bazy: | Scopus |
Efekt badań statutowych | NIE |
Materiał konferencyjny: | NIE |
Publikacja OA: | TAK |
Abstrakty: | angielski | polski |