ZEISS POLSKA
Artykuły z 2025 (1)
1. Application of the machine learning regression algorithms to optimization of the CMM measurement strategies / Jakub Rzeczkowski, Sylwester Samborski, Aleksander Czajka, Mariusz Kłonica, Mateusz Janik, Konrad Krzepek, Piotr Sobecki, Marek Besztak // Measurement Science & Technology.- 2025, vol. 36, nr 11 [MNiSW: 70]
Jeżeli ta strona zawiera nieaktualne, błędne lub niekompletne dane prosimy o kontakt pod adresem oab@pollub.pl