Zewnętrzne identyfikatory
| WoS ResearcherID | BRAK |
| ORCID | BRAK |
| Scopus ID | BRAK |
Historia zatrudnienia
| Belarusian State University | zatrudniony do dnia dzisiejszego |
Trzy ostatnio wprowadzone artykuły autora (3)
Electrical and optical properties of SiO2 thin layers implanted with Zn ions / K. Czarnacka, T. N. Kołtunowicz, M. Makhavikou, I. Parkhomenko, F. F. Komarov // Acta Physica Polonica A.- 2019, vol. 136, nr 2, s. 274-277 [MNiSW: 70]
Origin of visible photoluminescence of Si-rich and N-rich silicon nitride films / F. F. Komarov, L. Vlasukova, I. Parkhomenko, Paweł Żukowski, O. Milchanin, A. Mudryi, Vadim Żhyvulka, Jerzy Żuk , Przemysław Kopyciński , Danatbek Murzalinov // Przegląd Elektrotechniczny.- 2016, vol. 92, nr 8, s. 184-186 [MNiSW: 14]
Light emitting single-crystalline silicon wafers implanted with V and III group ions / F. F. Komarov, L. Vlasukova, O. Milchanin, M. Greben, I. Parkhomenko, A. Mudryi, E. Wendler, Paweł Żukowski // Acta Physica Polonica A.- 2014, vol. 125, nr 6, s. 1288-1291 [MNiSW: 15]
Trzy ostatnio wprowadzone fragmenty książek autora (3)
Ion-beam synthesis and structural characterization of ZnSe nanocrystals in SiO2 / M. Makhavikou, F. F. Komarov, O. Milchanin, L. Vlasukova, I. Parkhomenko, E. Wendler, Karolina Czarnacka. [W]: 10th International Conference New Electrical and Electronic Technologies and their Industrial Implementation (NEET 2017), 27-30 June 2017, Zakopane : [book of abstrcts].- 2017, s. 63-63
Origin of visible photoluminescence of Si-rich and N-rich silicon nitride films / F. F. Komarov, I. Parkhomenko, Marek Opielak. [W]: 3rd International Symposium “Optics and its Applications”, OPTICS-2015, Yerevan - Ashtarak, Armenia, 1-5,October, 2015: [book of abstracts].- 2015, s. 132-132
AC Measurements and dielectric properties of nitrogen-rich silicon nitride thin films / Karolina Czarnacka, Paweł Żukowski, Fadei F. Komarov, Ivan A. Romanov, Irina N. Parkhomenko. [W]: Proceedings of the 2017 IEEE 7th International Conference Nanomaterials: Application & Properties (NAP-2017) [WOS].- 2017, s. 1-4
Jeżeli ta strona zawiera nieaktualne, błędne lub niekompletne dane prosimy o kontakt pod adresem oab@pollub.pl